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    固体孔隙率测定仪

    固体孔隙率测定仪
    固体孔隙率测定仪

    固体孔隙率测定仪包含DT-300的功能,能够用于几乎所有类型的多相异构系统,,包括颗粒、沉积物和多孔材料。

    产品型号:DT-330

    联系方式

    86-10-81706682

    产品介绍

    公司介绍

    美国分散科技公司(DTI专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料,纳米分散体系、陶瓷浆料,电池浆料,水泥家族,药物乳剂等,并可应用于多孔固体。

    利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时,声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度,采用多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50%(体积)浓度的样品,无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。

    传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理,既费时又容易出错,而多频电声技术则可避免这些问题。超声探头(Zeta Probe)能直接在样品的原始条件下测量zeta电位,允许样品浓度高达50%(体积)。Zeta Probe 结构设计紧凑,外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点,可快速得到很好分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用,通用性强,非常适用于科研及工厂的优化控制。 

     

    固体孔隙率测定仪

    • 包含DT-300的功能,能够用于几乎所有类型的多相异构系统,,包括颗粒、沉积物和多孔材料
    • 包括高频电导率探头可以通过方法测量孔隙率
    • 通过电声电振法可以测量多孔材料的表面zeta电位
    • 在用胶体振动电流 (CVI) 方式测定原浓体系的zeta电位时,输入电导率值可计算双电层厚度及粒子表面电荷密 度

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